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Evaluation de Réticules Avancés : Propriétés optiques des réticules et prise en compte de leur processus de fabrication dans l’amélioration des modèles OPC pour étendre les fenêtres de procédés en lithographie optique par immersion, pour les noeuds technologiques 28nm et 14nm (Document en Français)
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Version :
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Auteur : Zine el abidine Nacer
Date de soutenance : 28-11-2017
Directeur(s) de thèse : Schanen Duport Isabelle
Etablissement de soutenance : Université Grenoble Alpes (ComUE)
Laboratoire : Centre de radiofréquences, optique et micro-nanoélectronique des Alpes (Grenoble, Isère, France ; Chambéry ; 2007-....)
Ecole doctorale : École doctorale électronique, électrotechnique, automatique, traitement du signal (Grenoble ; 199.-....)
Zine el abidine, Nacer
Nom
Zine el abidine
Prénom
Nacer
Nationalité
Français
Date de soutenance : 28-11-2017
Directeur(s) de thèse : Schanen Duport Isabelle
Schanen Duport, Isabelle
Nom
Schanen Duport
Prénom
Isabelle
Etablissement de soutenance : Université Grenoble Alpes (ComUE)
Université Grenoble Alpes (ComUE)
Nom
Université Grenoble Alpes (ComUE)
Laboratoire : Centre de radiofréquences, optique et micro-nanoélectronique des Alpes (Grenoble, Isère, France ; Chambéry ; 2007-....)
Centre de radiofréquences, optique et micro-nanoélectronique des Alpes (Grenoble, Isère, France ; Chambéry ; 2007-....)
Nom
Centre de radiofréquences, optique et micro-nanoélectronique des Alpes (Grenoble, Isère, France ; Chambéry ; 2007-....)
Ecole doctorale : École doctorale électronique, électrotechnique, automatique, traitement du signal (Grenoble ; 199.-....)
École doctorale électronique, électrotechnique, automatique, traitement du signal (Grenoble ; 199.-....)
Nom
École doctorale électronique, électrotechnique, automatique, traitement du signal (Grenoble ; 199.-....)
Discipline : Nano electronique et nano technologies
Classification : Sciences de l'ingénieur
Mots-clés libres : Réticule, Modélisation, Effet de Défocalisation, Effet de densité de motif, Profil des Motifs de Réticules
Mots-clés :
Classification : Sciences de l'ingénieur
Mots-clés libres : Réticule, Modélisation, Effet de Défocalisation, Effet de densité de motif, Profil des Motifs de Réticules
Mots-clés :
- Photolithographie
- Microélectronique
- Optique -- Instruments
Type de contenu : Text
Format : PDF
Format : PDF