Assas Recherche | Développement d'un procédé intégré de réflecto-transmissiométrie temporelle térahertz à excitation optoélectronique

Développement d'un procédé intégré de réflecto-transmissiométrie temporelle térahertz à excitation optoélectronique (Document en Français)

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Modalités de diffusion de la thèse :

Thèse consultable sur internet, en texte intégral.

Informations sur les contributeurs

Auteur : Pederiva Raphaël

Pederiva, Raphaël

Nom

Pederiva

Prénom

Raphaël

Nationalité

Français

Date de soutenance : 06-12-2024

Directeur(s) de thèse : Roux Jean-François

Roux, Jean-François

Nom

Roux

Prénom

Jean-François

- Artillan Philippe

Artillan, Philippe

Nom

Artillan

Prénom

Philippe

Etablissement de soutenance : Chambéry

Chambéry

Nom

Chambéry

Laboratoire : Centre de radiofréquences, optique et micro-nanoélectronique des Alpes (Grenoble, Isère, France ; Chambéry ; 2007-....)

Centre de radiofréquences, optique et micro-nanoélectronique des Alpes (Grenoble, Isère, France ; Chambéry ; 2007-....)

Nom

Centre de radiofréquences, optique et micro-nanoélectronique des Alpes (Grenoble, Isère, France ; Chambéry ; 2007-....)

Ecole doctorale : École doctorale électronique, électrotechnique, automatique, traitement du signal (Grenoble ; 199.-....)

École doctorale électronique, électrotechnique, automatique, traitement du signal (Grenoble ; 199.-....)

Nom

École doctorale électronique, électrotechnique, automatique, traitement du signal (Grenoble ; 199.-....)

Informations générales

Discipline : Optique et Radiofréquences
Classification : Sciences de l'ingénieur

Mots-clés libres : Hyperfréquences, THz, Spectroscopie dans le domaine temporel, Réflectométrie, Femtoseconde, Caractérisation de matériau, Indice de réfraction, Permittivité diélectrique
Mots-clés :

Optoélectronique hyperfréquence
Réfractométrie

Résumé : La caractérisation des propriétés diélectriques des matériaux est un domaine de recherche fondamental, motivé par la nécessité croissante de concevoir des dispositifs plus performants et efficaces dans de nombreuses applications technologiques. Par exemple, dans le domaine des radiofréquences, la connaissance précise de l'indice de réfraction est cruciale pour la conception, la simulation et l'optimisation des dispositifs électroniques tels que les antennes, les filtres ou encore les circuits intégrés. Ces travaux de thèse portent ainsi sur le développement de circuits THz intégrés et sur la mise au point d'une méthode de caractérisation de l'indice de réfraction de matériau via une approche temporelle. Cette technique utilise un laser impulsionnel femtoseconde combiné à l'utilisation de photocommutateurs ultrarapides pour la génération et la détection de signaux. Cette approche permet la mesure sur une gamme de fréquence allant de 50 à 550 GHz. Le matériau sous test, ainsi que les générateur et détecteur THz, sont intégrés au sein d'un dispositif permettant plus spécifiquement la mesure de matériau de faible volume. Dans ces travaux, une modélisation complète du système de mesure et la procédure d'extraction de l'indice de réfraction de matériau sont présentées. Une mise en œuvre expérimentale est également proposée avec notamment la caractérisation de l'indice de réfraction de gouttelettes de glycérol d'une centaine de nanolitres.

Informations techniques

Type de contenu : Text
Format : PDF

Informations complémentaires

Entrepôt d'origine :

STAR : dépôt national des thèses électroniques françaises

Identifiant : 2024CHAMA051
Type de ressource : Thèse