Assas Recherche | Etude des bruits basse fréquence et des défauts électriquement actifs dans les détecteurs infrarouge refroidis

Etude des bruits basse fréquence et des défauts électriquement actifs dans les détecteurs infrarouge refroidis (Document en Français)

Accès au(x) document(s)

Accéder au(x) document(s) :

https://thares.univ-grenoble-alpes.fr/2019GREAT120.pdf

Ce document est protégé en vertu du Code de la Propriété Intellectuelle.

Modalités de diffusion de la thèse :

Thèse confidentielle jusqu'au 08/11/2021.
Thèse soumise à l'embargo de l'auteur : embargo illimité (communication intranet).

Informations sur les contributeurs

Auteur : Guinedor Pierre

Guinedor, Pierre

Nom

Guinedor

Prénom

Pierre

Nationalité

Français

Date de soutenance : 08-11-2019

Directeur(s) de thèse : Bauza Daniel

Bauza, Daniel

Nom

Bauza

Prénom

Daniel

- Rubaldo Laurent

Rubaldo, Laurent

Nom

Rubaldo

Prénom

Laurent

Etablissement de soutenance : Université Grenoble Alpes (ComUE)

Université Grenoble Alpes (ComUE)

Nom

Université Grenoble Alpes (ComUE)

Laboratoire : Centre de radiofréquences, optique et micro-nanoélectronique des Alpes (Grenoble, Isère, France ; Chambéry ; 2007-....)

Centre de radiofréquences, optique et micro-nanoélectronique des Alpes (Grenoble, Isère, France ; Chambéry ; 2007-....)

Nom

Centre de radiofréquences, optique et micro-nanoélectronique des Alpes (Grenoble, Isère, France ; Chambéry ; 2007-....)

Ecole doctorale : École doctorale électronique, électrotechnique, automatique, traitement du signal (Grenoble ; 199.-....)

École doctorale électronique, électrotechnique, automatique, traitement du signal (Grenoble ; 199.-....)

Nom

École doctorale électronique, électrotechnique, automatique, traitement du signal (Grenoble ; 199.-....)

Informations générales

Discipline : Nanoe?lectronique et nanotechnologie
Classification : Sciences de l'ingénieur

Mots-clés libres : InfraRouge, Bruits basse fréquence, Rts, 1/f, Dlts
Mots-clés :

Bruit électronique
Spectroscopie
Détecteurs de rayonnement infrarouge

Résumé : Dans le contexte des technologies HOT (High Operating Temperature) visant l’augmentation de la température de fonctionnement, les bruits basse fréquence 1/f et RTS (Random Telegraph Signal) sont les principaux détracteurs dégradant la qualité image des détecteurs infrarouge refroidis à base de HgCdTe. Ce travail est donc consacré à la détermination des défauts qui en sont à l’origine pour, à terme, pouvoir espérer améliorer la qualité image. A cette fin, deux voies d’étude ont été empruntées : la caractérisation électro-optique des bruits basse fréquence et la caractérisation spectroscopique des défauts électriquement actifs dans le matériau. Après avoir décrit les généralités sur la détection infrarouge et présenté les différentes techniques de spectroscopie employées lors de ce travail, les bruits basse fréquence sont étudiés pour affiner la compréhension de leur mécanisme physique. Enfin, des études de DLTS (Deep Level Transient Spectroscopy) sont menées pour deux technologie de fabrication en bande SWIR (Short Wave InfraRed, ?c = 2,5 µm) et MWIR bleu (Mid Wave Infrared, ?c = 4,2 µm) pour tenter de remonter aux défauts du matériau qui sont à l’origine de ces bruits.

Informations techniques

Type de contenu : Text
Format : PDF

Informations complémentaires

Entrepôt d'origine :

STAR : dépôt national des thèses électroniques françaises

Identifiant : 2019GREAT120
Type de ressource : Thèse