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Investigation des mécanismes d'injection des porteurs chauds, de tunneling et de dégradation pour les diélectriques dans les technologies avancées CMOS et mémoires non-volatiles
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Anglais)
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Modalités de diffusion de la thèse :
Thèse consultable sur internet, en texte intégral.
Informations sur les contributeurs
Auteur :
Zaka Alban
Zaka, Alban
Nom
Zaka
Prénom
Alban
Nationalité
Français
Date de soutenance :
23-01-2012
Directeur(s) de thèse :
Pananakakis Georges
Pananakakis, Georges
Nom
Pananakakis
Prénom
Georges
Etablissement de soutenance :
Grenoble
Grenoble
Nom
Grenoble
Laboratoire :
Centre de radiofréquences, optique et micro-nanoélectronique des Alpes (Grenoble, Isère, France ; Chambéry ; 2007-....)
Centre de radiofréquences, optique et micro-nanoélectronique des Alpes (Grenoble, Isère, France ; Chambéry ; 2007-....)
Nom
Centre de radiofréquences, optique et micro-nanoélectronique des Alpes (Grenoble, Isère, France ; Chambéry ; 2007-....)
Ecole doctorale :
École doctorale électronique, électrotechnique, automatique, traitement du signal (Grenoble ; 199.-....)
École doctorale électronique, électrotechnique, automatique, traitement du signal (Grenoble ; 199.-....)
Nom
École doctorale électronique, électrotechnique, automatique, traitement du signal (Grenoble ; 199.-....)
Informations générales
Discipline :
Nano électronique et nano technologies
Classification :
Sciences de l'ingénieur
Mots-clés libres :
TCAD, Mémoire embarquée, Injection, Porteurs chauds, Monte Carlo, Tunneling dégradation
Mots-clés :
Nanotechnologie
Résumé :
L'auteur n'a pas fourni de résumé en français
Informations techniques
Type de contenu :
Text
Format :
PDF
Informations complémentaires
Entrepôt d'origine :
Identifiant :
2012GRENT118
Type de ressource :
Thèse